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微泄漏密封测试仪 DHS 740 如何在真空压力衰减下进行无损测量

发表时间:2022-08-08  |  点击率:289

泄漏测量中使用的经典方法之一当然是压力衰减。在本教程中,我们将介绍使用微泄漏密封测试仪 DHS 740 如何在真空压力衰减下进行无损测量。

第 1 部分 – 压力衰减测试 – 工作原理

压力衰减可能是制造生产线中使用广泛的泄漏测试方法。该过程不复杂、相对便宜且易于自动化。

将空气简单地注入测试对象,然后关闭压力源。随着时间的推移,空气压力的任何降低都表示泄漏。

对于压力衰减,灵敏度是物体大小和测试时间间隔的函数。对于大多数应用来说,中型和大型物体需要更长的循环时间才能达到足够的灵敏度。对于中等大小的物体,灵敏度仅限于检测泄漏量为 0.5 – 1.0 cc/min 的泄漏。

使用压降法时,以下几点很重要:

• 压降与泄漏率成正比;

• 如果满足以下条件,观察到的压降可以转换为泄漏率:

- 被测组件的内部体积已知;

- 准确测量压降;

- 记录测试时间

使用压降法时,泄漏值可以用下式计算,其中:

Q = 泄漏率,单位为 mbar.l / s;

p¹ = 初始压力,单位为 mbar;

p² = 以 mbar 为单位的最终打印;

V = 体积,以升为单位;

t = 以秒为单位的时间。

可以检测到的最小压力变化约为 0.1 Pa、0.001 mbar 或 0.0000145 psi。

必须密切监测温度波动以获得最大精度。


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